MAXXI5   X射線鍍層測(cè)厚儀

產(chǎn)地：英國(guó)   品牌：牛津儀器    型號(hào)：MAXXI5

儀器原理及測(cè)量方法介紹：

● 1.熒光X射線微小面積鍍層厚度測(cè)量?jī)x的特征，滿足標(biāo)準(zhǔn)ISO 3497-2000或GB T16921-2005金

    屬覆蓋層 鍍層厚度的測(cè)量 X射線光譜法

• 可測(cè)量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。
• 可通過(guò)CCD攝像機(jī)來(lái)觀察及選擇任意的微小面積以進(jìn)行微小面積鍍層厚度的測(cè)量，避免直接接觸或破壞被測(cè)物。
• 薄膜FP法軟件是標(biāo)準(zhǔn)配置，可同時(shí)對(duì)多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進(jìn)行測(cè)量。此外，適用于無(wú)鉛焊錫的應(yīng)用。 

● 2.測(cè)量原理   鎮(zhèn)江供應(yīng)牛津儀器X射線鍍層測(cè)厚儀

   物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來(lái)，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來(lái)。熒光X射線鍍層厚度測(cè)量或成分分析儀的原理就是測(cè)量這被釋放出來(lái)的熒光的能量及強(qiáng)度，來(lái)進(jìn)行定性和定量分析。

● 3.鍍層厚度的測(cè)量方法   鎮(zhèn)江供應(yīng)牛津儀器X射線鍍層測(cè)厚儀

    鍍層厚度的測(cè)量可分為標(biāo)準(zhǔn)曲線法和FP法(基本參數(shù)法)2種。標(biāo)準(zhǔn)曲線法是測(cè)量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品，根據(jù)熒光X射線的能量和強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層厚度的對(duì)應(yīng)關(guān)系，來(lái)得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。之后以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來(lái)測(cè)量示知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。

FP法即是Fundamental Parameter Method的簡(jiǎn)稱(chēng)。即基本參數(shù)法。

1）標(biāo)準(zhǔn)曲線法：如下圖所示，經(jīng)X射線照射后，鍍層和底材都會(huì)各自產(chǎn)生熒光X射線，我們必需對(duì)這2種熒光X射線能夠辨別，方能進(jìn)行鍍層厚度的測(cè)量。也就說(shuō)，鍍層和底材所含有的元素必需是不*相同的，這是測(cè)量鍍層厚度的先決條件。 

   鍍層厚度測(cè)量時(shí)，可采用兩種不同方法。

    一種是注重鍍層中的元素所產(chǎn)生的熒光X射線強(qiáng)度，稱(chēng)為激發(fā)法。

   一種是注重底材中的元素所產(chǎn)生的熒光X射線強(qiáng)度，稱(chēng)為吸收法。這兩種方法的應(yīng)用必需根據(jù)鍍層和底材的不同組合來(lái)區(qū)分使用。

   鍍層厚度測(cè)量時(shí)，測(cè)量已知厚度的標(biāo)準(zhǔn)樣品而得到其厚度及產(chǎn)生的熒光X射線強(qiáng)度之間的關(guān)系，并做出標(biāo)準(zhǔn)曲線。然后再測(cè)量未知樣品的熒光X射線強(qiáng)度，得到鍍層厚度。但是需注意的是，熒光X射線法是從得到的熒光X射線的強(qiáng)度來(lái)求得單位面積的元素附著量，再除以元素的密度來(lái)得出其厚度。所以，對(duì)于含有雜質(zhì)或多孔質(zhì)蒸鍍層等與純物質(zhì)不同密度的樣品，需要進(jìn)行修正。

2）FP法 - 基本參數(shù)方法

   采用FP法，只需要比標(biāo)準(zhǔn)曲線法更少的標(biāo)準(zhǔn)樣品，就能簡(jiǎn)單迅速地得到測(cè)量的結(jié)果。如果樣品均勻，所使用分析線的強(qiáng)度就可用樣品的成分和基本參數(shù)的函數(shù)來(lái)表示。換句話說(shuō)，從任意組成的樣品所產(chǎn)生的分析線強(qiáng)度，都可以從這基本參數(shù)來(lái)計(jì)算出，所以我們稱(chēng)這種方法為基本參數(shù)法。

   FP法的zui大特征是可對(duì)塊體樣品進(jìn)行成分分析到薄膜樣品的成分與厚度同時(shí)進(jìn)行分析與測(cè)量。MAXXI 5系列的儀器是對(duì)于塊體樣品可采用塊體FP法，對(duì)于薄膜樣品可采用薄膜FP分析法。

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